為了滿足各種半導體器件的需要,,必需對材料的電學參數(shù)進行測量,這些參數(shù)一般為電 阻率,、載流子濃度,、導電類型,、遷移率,、壽命及載流子濃度分布等。測量方法有四探
Read More..摘要:對四探針技術測試薄層電阻的原理進行了綜述,,重點分析了常規(guī)直線四探針法,、改進范德堡法和斜置式方形Rymaszewski 法的測試原理,并應用斜置式Rymaszewski 法研
Read More..晶圓測試是對晶片上的每個晶粒進行針測,,在檢測頭裝上以金線制成細如毛發(fā)之探針(probe),與晶粒上的接點(pad)接觸,,測試其電氣特性,,不合格的晶粒會被標上記號,而后當
Read More..磁控濺射磁控濺射是物理氣相沉積(Physical Vapor Deposition,,PVD)的一種,。一般的濺射法可被用于制備金屬、半導體,、絕緣體等多材料,,且具有設備簡單、易于控制,、鍍
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Read More..摘要:等離子劃片是近年來興起的一項新型圓片劃片工藝。與傳統(tǒng)的刀片劃片,、激光劃片等工藝不同,,該工藝技術可以同步完成一張圓片上所有芯片的劃片,生產效率明顯提升
Read More..在我們的生活中,,隨處都可見表面不同的拉絲工藝,,表面拉絲處理是通過研磨產品在工件表面形成線紋,起到裝飾效果的一種表面處理手段,。今天小編就與大家從拉絲的應用,、
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Read More..摘 要: 采用不同的固封方式,,驗證了航天用CQFP封裝器件在嚴苛力學條件下的抗振效果,,并通過熱循環(huán)試驗表明了不同膠黏劑由于熱膨脹系數(shù)的差異對焊點產生的影響。力
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